import java.util.Scanner;

public class demo01 {
//    问题描述：有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
//    每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。
//    而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
//    给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
//    输入格式：输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
//    第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，
//    1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
//    输出格式：按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
//    样例输入：3
//            1 0 1
//            0 1 0
//            1 0 1
//    样例输出：1 3

    public static void main(String[] args) {
        Scanner sc=new Scanner(System.in);
        int n=sc.nextInt();
        int[][] arr=new int[n][n];
        for (int i = 0; i < n; i++) {
            for (int j = 0; j < n; j++) {
                arr[i][j]=sc.nextInt();
            }
        }
        for (int i = 0; i < n; i++) {
            int flag1=0;
            int flag2=0;
            for (int j = 0; j < n; j++) {
                if(arr[i][j]==0){
                    flag2++;
                }else{
                    flag1++;
                }
            }
            if(flag1>flag2){
                System.out.print(i+1+" ");
            }
        }
    }
}
